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Test Sockel & Adapter

Diese einzigartigen und patentierten Federkontakt Sockel funktionieren gleichermaßen gut als Testsockel und/oder Burn-In-Sockel. Für Testzwecke reicht der Frequenzbereich von weniger als 1 GHz bis zu 45+ GHz (Elastomer Kontaktsystem) und für Burn-in arbeiten die Sockel auch bei Temperaturen von -55 °C bis +150 °C (Für Hoch Temperatur Anwendungen sogar bis 250 °C). Ein und derselbe Sockel mit der gleichen Grundfläche kann für Prüfstandstests, Produktionstests und Burn-in verwendet werden. 

Aries
  
  
CSP-Testsockel, ZIF, Hochtemperatur, Hochfrequenz, Prototyping
  

Diese hochwertigen, vielseitigen und robusten Adapter werden für vorhandene Chipgehäuse auf Leiterplatten eingesetzt und finden dank ihrer Leistung in einer Vielzahl von Anwendungen Verwendung. Sie ermöglichen Ihnen ohne Layout Änderung neuere bzw. andere Chipgehäuse auf Ihren existierenden Leiterplatten einzusetzen. Dabei können Sie aus vorhandenen "Low-Cost" sowie komplett Kundenspezifischen Adapter Varianten wählen.

Aries
 
  
"Correct-a-Chip"® Adapter
  

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RF Hochfrequenz Test Sockel (Aries)
"Correct-a-Chip"® Adapter (Aries)
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